Tsai-Hill 失敗準則
失敗準則
Tsai-Hill 失敗準則適用於複材薄殼。
此準則在於考量因負載所累積的總應變能中之畸變能的部分。畸變能是導致形狀改變之應變能中的一部分。另一部分則是因負載而導致體積變化(在 2D 中為區域變化)的脹縮能。
下圖顯示載入 2D 模型時脹縮與畸變之間的差異。

以複材薄殼的 2D 疊層為例,程式以 s3 =0、t13 =0、t23 =0 來假設每個疊層的平面應力狀態。失敗指數的計算方式如下:

程式將安全係數 (FOS) 記述為 1 / (F.I.)。因此,層板的 FOS 應大於 1 才算安全。
其中︰
X1 是材料方向 1 的抗拉強度
X2 是材料方向 2 的抗拉強度
S12 是剪力強度
按一下材料主軸方向以查看材料方向 1 和 2 的定義。
再者,
X1= X1T 如果 s1 > 0
X1= X1C 如果 s1 < 0
X2= X2T 如果 s1 > 0
X2= X2C 如果 s1 < 0
上標字 T 和 C 分別代表抗拉及抗壓強度。
注意:Tsai-Hill 準則在於考量不同應力零組件之間的互動。因此屬於互動性失敗理論。
限制
Tsai-Hill 失敗準則無法預測不同的失敗模式,包括纖維失敗、基體失敗及纖維-基體界面失敗。
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