Tsai-Wu 失败准则

失败准则

Tsai-Wu 准则适用于复合壳体。

此准则为预测失败考虑总应变能（包括失真能和扩张能）。它比 Tsai-Hill 失败准则更常见，因为它区分压缩和张力失败强度。对于为复合壳体假设的 2D 平面应力状态（s3 =0，t13 =0，t23 =0），失败指数的计算方法如下：

程序报告安全系数 (FOS) 为 1 / (F.I.)。对于薄层 FOS 应大于 1 才能安全。

其中

X1 是材料方向 1 中的张力强度

X2 是材料方向 2 中的张力强度

S12 是抗剪强度

上标 T 和 C 分别说明张力和压缩强度。

单击主要材料方向定义材料方向 1 和 2。

限制

Tsai-Wu 失败准则无法预测包括纤维失败、矩阵失败和纤维-矩阵失败接口失败在内的不同失败模式。

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