Tsai-Hill 失败准则

失败准则

Tsai-Hill 失败准则适用于复合壳体。

此准则考虑根据载荷存储的总应变能的失真能。失真能是造成形状更改的应变能的部分。其他部分是根据载荷造成体积更改的扩张能（2D 中的区域更改）。

图片说明加载 2D 模型时扩张和失真之间的差异。

对于一个 2D 薄层，在复合壳体时，假设每个薄层的平面张力状态为 s3 =0，t13 =0，t23 =0。失败指数的计算方法如下：

程序报告安全系数 (FOS) 为 1 / (F.I.)。因此对于薄层 FOS 应大于 1 才能安全。

其中：

X1 是材料方向 1 中的张力强度

X2 是材料方向 2 中的张力强度

S12 是抗剪强度

单击主要材料方向定义材料方向 1 和 2。

此外，

X1= X1T，如果 s1 > 0   

 X1= X1C，如果 s1 < 0   

X2= X2T，如果 s1 > 0   

 X2= X2C，如果 s1 < 0

上标 T 和 C 分别说明张力和压缩强度。

注：Tsai-Hill 准则考虑不同应力组件之间的交互。因此这是一个交互失败理论。

限制

Tsai-Hill 失败准则无法预测包括纤维失败、矩阵失败和纤维-矩阵失败接口失败在内的不同失败模式。

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