第 4 軸測量 (X/Y 軸) 此探查循環可測量兩個點之間相對於第四軸所選表面的斜度。 所選表面必須在 X 或 Y 軸上測量探查點之間的斜度。您可以使用所得數值補償旋轉軸。 表面質心的 X 和 Y 座標是刀具路徑的起點。SOLIDWORKS CAM 會根據兩個探查點之間的指定距離,圍繞這個起點以對稱方式定位探查點。 探查移動與軸平行。SOLIDWORKS CAM 會測量與表面參考點之間的間隙距離。對於探查移動,間隙距離可能會比定義值更大或更小。 上層主題探查循環