选择失败准则指导原则

失败准则评估

通过比较不同应力双轴状态下的失败封套（在封套外面发生薄层失败），和实验比较薄层失败的理论预测。假设一个薄层在带有非零应力组件的平面应力的状态下，s1、s2 和 t12。方向 1 和 2 分别代表相对于层方位方向的层方位方向和横向。

特定失败理论的失败封套如图所示，例如 Tsai-Wu 失败准则。X 和 S 分别是薄层的正常和抗剪强度。t 和 c 代表张力和压缩载荷。第二个图解中的打开圆圈显示 t12 > 0 的部分范例实验结果。其他失败准则（Tsai-Hill 和最大应力准则）的失败封套被叠加，并根据选择最佳失败准则的实验结果评估预测的准确性。

注：图形不是任何材料系统的表示。它表示理解如何评估失败准则。

对于多方向薄层，很难评估使用哪个失败理论。类似的失败封套为薄层构造。不过对于程序使用的 FPF（第一层失败），由于几种原因，理论预测和实验观察之间存在很大差异。

根据类似观察提出一些建议，帮您在不同的失败理论中选择。

通常由于缺乏全面的实验结果，很难确定使用哪种理论。可能时应使用全部三个失败理论，并且为相对连续的设计选择最坏情况。

最大应力准则

对于矩阵控制的失败，最大应力准则最适合交叉纤维应力 s2 > 0 的薄层。可使用应力图解 PropertyManager 中的复合选项为每个层选中此应力。

Tsai-Hill 准则

Tsai-Hill 准则最适合强度等于张力和压缩的薄层。对于矩阵控制的失败，Tsai-Hill 准则最适用于交叉纤维应力 s2 < 0 的薄层。

Tsai-Wu 准则

Tsai-Wu 准则最适用于张力和压缩中不相等的强度。对于矩阵控制的失败，Tsai-Wu 准则最适用于交叉纤维应力 s2 < 0 的薄层。

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